お世話になっております。ユリと申します。掲題の件につきましてご助言をいただきたいです。
RX140静電容量タッチ評価システムのCPUボードと、外部の透明電極を用いてタッチレスとタッチの２段階の判定を実装しようとしています。タッチレスとは非接触で最低20ｍｍの検出、タッチは指が電極に触れている状態とします。
開発環境はe2studio、QE for touchで、サンプルプログラムを用いています。QEの設定は評価ボードのタッチアプリケーションボードのタッチスイッチ部分を用いています。
CPUボードのTS6～9（CN2、7～10pin)に、透明電極を接続しています。（TS6にシールド、TS7～9に電極）電極サイズは直径15ｍｍの円、電極と指の間には厚さ1ｍｍのアクリル板を挟んでいます。
現状、タッチの判定は行えるのですが、タッチレスの判定ができていません。タッチ時の測定値の差分が1000～1500程度に対し、20ｍｍ離れた状態では差分が100未満です。
接近を認識はできているようなので、接近時の差分をしきい値が設定できる程度に細分化、もしくは増加させたいです。どのような方法で実現可能になるか、教えていただきたいです。
よろしくお願いいたします。
ユリさん、こんにちは。NoMaYと申します。自分で使ったことが無くて恐縮なのですけれども、昨日の日付で以下のアプリケーションノートが発行されてました。これは参考になりませんでしょうか。静電容量センサマイコン QE for Capacitive Touch アドバンスドモード(高度な設定)パラメータガイドR30AN0428JJ0100 Rev.1.00 Pages Jun.20.23www.renesas.com/jp/ja/document/apn/capacitive-sensor-mcu-qe-capacitive-touch-advanced-mode-parameter-guide「要旨静電容量タッチセンサ対応開発支援ツール(QE for Capacitive Touch)は、CTSUを搭載したルネサスマイコンで使用するチューニングデータを生成するツールです。デフォルトでは、QE for Capacitive Touchでは自動チューニングによってチューニングデータを生成します。ただし、タッチのパフォーマンスを最適化するために、QE for Capacitive Touchはアドバンスドモード(高度な設定)をサポートしています。本アプリケーションノートでは、アドバンスドモード(高度な設定)と調整可能なCTSUパラメータについて説明します。静電容量タッチを初めて開発する場合は、事前に静電容量タッチ導入ガイドをお読みになることを推奨します。」[関連リンク]QE for Capacitive Touch V3.3.0 リリースノートR20UT5326JJ0100 Rev.1.00 Pages 15 Jun.20.23www.renesas.com/jp/ja/document/rln/qe-capacitive-touch-v330-release-note
NoMaYさん、こんにちは。ユリです。
情報ありがとうございます。教えていただいた資料に該当すると思われる調整方法が記載されておりましたので、こちらを参考に試してみます。